Old Web
English
Sign In
Acemap
>
authorDetail
>
Г. А. Трапашко
Г. А. Трапашко
Microelectronics
Engineering
Measuring instrument
Atomic force microscopy
Length scale
4
Papers
0
Citations
0
KQI
Citation Trend
Filter By
Interval:
1900~2024
1900
2024
Author
Papers (4)
Sort By
Default
Most Recent
Most Early
Most Citation
No data
Journal
Conference
Others
Технологические комплексы интегрированных процессов производства изделий электроники
2016
А. П. Достанко
С. М. Аваков
О.А. Агеев
М. П. Батура
С. В. Бордусов
В. Н. Джуплин
С. М. Завадский
О В Клим
В.Л. Ланин
С. И. Мадвейко
Д. А. Голосов
С. Н. Мельников
И. Б. Петухов
Г. Е. Ретюхин
А. М. Русецкий
Д. С. Титко
В. С Томаль
Г. А. Трапашко
С. Б Чередниченко
Д. И. Школык
Show All
Source
Cite
Save
Citations (0)
Автофокусировка в установках автоматического контроля дефектов топологического рисунка фотошаблонов и полупроводниковых пластин
2015
С. М. Аваков
А. В. Безлюдов
Н. И. Гайков
В.Л. Ланин
В. П. Огер
Д. С. Титко
Г. А. Трапашко
S. M. Avakow
A. V. Bezludov
N. I. Gaikov
V. L. Lanin
V. P. Oher
D. S. Titko
G. A. Trapashko
Show All
Source
Cite
Save
Citations (0)
Синтез оптоэлектронной системы установки контроля микроэлектронных структур
2014
Г. А. Трапашко
Show All
Source
Cite
Save
Citations (0)
КАЛИБРОВКА УСТАНОВОК ИЗМЕРЕНИЙ РАЗМЕРОВ ЭЛЕМЕНТОВ МИКРОЭЛЕКТРОННЫХ СТРУКТУР
2012
Г. А. Трапашко
Show All
Source
Cite
Save
Citations (0)
1