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A-Raum Choi

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Stress effect analysis for PD-SOI pMOSFETs with undoped-Si0.88Ge0.12 heterostructure channel (Electron devices: 第15回先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア・太平洋ワークショップ(AWAD2007))

2007
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Stress effect analysis for PD-SOI pMOSFETs with undoped-Si0.88Ge0.12 heterostructure channel (Silicon devices and materials: 第15回先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア・太平洋ワークショップ(AWAD2007))

2007 SDM | SIAM International Conference on Data Mining
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