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SiN組成に依存するMONOSメモリ消去機構の遷移とそのサイクル劣化に与える影響 | 文献情報 | J-GLOBAL 科学技術総合リンクセンター
SiN組成に依存するMONOSメモリ消去機構の遷移とそのサイクル劣化に与える影響 | 文献情報 | J-GLOBAL 科学技術総合リンクセンター
2010
Fujii Shosuke
Fujiki Jun
Yasuda Naoki
Fujitsuka Ryota
Sekine Katsuyuki
Keywords:
Electronic engineering
Engineering
Systems engineering
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