Threshold Behaviour of Electron Impact lonisation Cross Sections for Rare Gas Atoms

For electron energies from direct ionisation threshold up to several eV above cross sections for the production of He+, He2+, Ne+ up to Ne4+, Kr2+, Kr3+ and Xe2+ up to Xe4+ ions by single electron impact on atoms were measured. By a least square fit a power law was fitted to the cross sections. The exponents obtained by this procedure are compared with several models, i.e. a simple phase-space calculation, the Wannier model considering interelectronic repulsion and a statistical approach similar to Russek's statistical energy deposition model. We find that especially ionisation of many-electron atoms to high degrees of ionisation can not be described by the Wannier model, however, within the statistical approach. Schwellenverhalten der Elektronenstosionisierungsquerschnitte fur Edelgase Wir haben in dem Elektronenenergiebereich von der Ionisationsschwelle bis zu einigen eV daruber die Wirkungsquerschnitte fur die Bildung von He+, He2+, Ne+ bis Ne4+, Kr2+, Kr3+ und Xe2+ bis Xe4+-Ionen durch Elektronenstos gemessen. Mit Hilfe der Methode der kleinsten Fehlerquadrate wurde eine Potenzfunktion an die Wirkungsquerschnitte angepast. Die dadurch erhaltenen Exponenten werden mit verschiedenen Modellrechnungen verglichen: mit einer einfachen Phasenraumabschatzung, mit dem Wanniermodell, das die Korrelation der auslaufenden Elektronen berucksichtigt, und mit einer statistischen Betrachtung ahnlich dem Modell der statistischen Energieverteilung von Russek. Dabei zeigt sich, das besonders die Ionisation von Mehrelektronenatomen in hohe Ladungszustande nicht durch das Modell von Wannier, sondern mit dem statistischen Ansatz beschrieben werden kann.