Diffuse X-Ray Determination of the Energy of Mixing and Elastic Constants of GeSi Solid Solutions

The short-range order and elastic properties of GeSi solid solutions of 28, 54, and 64% Si are studied by means of X-ray diffuse scattering measurements. The mixing energy of the system taking into account the existence of two f.c.c. sublattices in the diamond structure is determined by extrapolating the long-wave Fourier transforms of the concentration fluctuations Cq to q = 0 points corresponding to the node (400) and equals for q = 0 to W(q=o) = (2.5 ± 0.2) kcal/mol. The elastic constants of the GeSi solid solutions are determined and their positive deviations obtained from the additive values which are in good agreement with the data of the lattice parameter of the system. Es werden die Nahordnung und die elastischen Eigenschaften von GeSi-Legierungen mit 28, 54 und 64% Si mittels Messung der diffusen Rontgenstreuung untersucht. Die Mischungsenergie des Systems wird unter Berucksichtigung der Existenz zweier k.f.z.-Untergitter in der Diamantstruktur durch Extrapolation der langwelligen Fouriertrans-formierten der Konzentrationsfluktuationen Cq auf Punkte q = 0 entsprechend dem Knotenpunkt (400) bestimmt und betragt fur q = 0 W(q=o) = (2,5 ± 0,2) kcal/mol. Die elastischen Konstanten der GeSi-Legierung werden bestimmt und ihre positiven Ab-weichungen aus den zusatzlichen Werten erhalten, die in guter ubereinstimmung mit den Werten des Gitterparameters des Systems sind.