On the Role of a Defect Flux on the Redistribution of Silver Atoms in Silver–Nickel Multilayer Films under Ion Bombardment

Radiation-induced redistribution of silver atoms in silver–nickel multilayer films under ion bombardment is studied using a phenomenological model due to Wiedersich et al. Coupled continuity equations for silver atom, vacancy, and interstitial fluxes are numerically solved by treating the diffusivity coefficients as free parameters to fit the experimental depth profiles of silver in silver–nickel multilayer films, obtained using a combination of Auger and sputtering techniques. It is inferred from the values of diffusivity coefficients thus obtained that the coupling of silver atom flux with interstitial flux is the dominant effect in controlling the redistribution of silver atoms in silver–nickel multilayer films under ion bombardment. Moreover, several microscopic features of the Ag atom transport in Ni under ion bombardment are pointed out. Die strahlungsinduzierte Umverteilung von Silberatomen unter Ionenbeschus in Silber-Nickel-Mehrschichtfilmen wird mit Hilfe des phanomenologischen Modells von Wiedersich et al. unter-sucht. Gekoppelte Kontinuitatsgleichungen fur Silberatom-, Locher- und Zwischengitteratomflusse werden numerisch gelost. Die Diffusitatskoeffzienten sind freie Parameter, um die mittels einer Kombination aus Auger- und Sputtertechniken erhaltenen experimentellen Tiefenprofile von Silber in Silber-Nickel-Mehrschichtfilmen zu simulieren. Die Werte der so gewonnenen Diffusitatskoeffizienten zeigen, das die. Kopplung des Silberatomflusses mit dem Zwischengitteratomflus der domi-nierende Effekt ist, der die Umverteilung von Silberatomen unter Ionenbeschus bestimmt. Auserdem werden weitere mikroskopische Eigenschaften des Silberatomtransports in Ni unter Ionenbeschus beobachtet.