Construction of alkalized MXene-supported CoFe2O4/CS composites with super-strong adsorption capacity to remove toxic dyes from aqueous solution
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Rhodamine B
Endothermic process
先端分析手法の一種であるX線光電子分光（XPS）は，物質の表面・界面の化学結合状態を同定できる．しかしながら，XPSスペクトルの解析は解析者の知識・経験によって結果が大きく異なる．そこで最近，この解析者依存性を抑制し，バックグラウンドを自動計算できるactive Shirley法が提案された．一方で本手法でもXPSスペクトルの形状によっては適切なバックグラウンド推定ができないことが分かった．特に，始点と終点それぞれのデータ点における強度の差が大きいXPSスペクトルに対して適用すると，XPSスペクトルとバックグラウンドが交差するという問題があった．この原因は“Shirley法を用いた初期計算で求めた仮バックグラウンドが既にXPSスペクトルと交差していること”であった．そこで本研究では，この“初期計算で与えるバックグラウンドがXPSスペクトルと交差する”という問題を抑制したアルゴリズム（初期端点調整型active Shirley法）を提案した．具体的には両端点の初期信号強度を自動調整するアルゴリズムを考案した．本手法の導入により以前に報告されたactive Shirley法と比較して適切なバックグラウンド推定が可能となった．またオージェピークが重畳した2価のCu 2pのXPSスペクトルの形状に適用できることが明らかになった．
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Ambient pressure
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X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) is a surface-sensitive technique that gives information on the elemental composition of materials as well as on the chemical state of the elements. Here, the basic principles of XPS are presented. Information on the determination of functional groups is given, and the assistance of chemical derivatization is presented. Some problems related to XPS analysis are mentioned as well. The application of XPS is shown on various examples of polymers with functionalized surfaces or with deposited coatings.
Chemical state
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Photoelectric effect
Surface layer
Chemical state
Electron spectroscopy
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Abstract Integral heats of dehydration have been measured by simultaneous differential thermal analysis (D.T.A.) and thermogravimetric analysis (T.G.A.) for gels of wheat starch. The results are interpreted on the basis that removal of water involves three structural changes: (a) Breakdown of starch‐water interaction (endothermic); (b) Breakdown of water‐water interaction (endothermic); (c) Increase in starch‐starch interaction (exothermic). On balance, the overall process is endothermic. It has also been shown qualitatively that the formation of gels from starch and water is an endothermic process. It is suggested that the energy required to disrupt the structure of the starch granules during gelation is greater than the energy released by increased starch hydration.
Endothermic process
Exothermic reaction
Thermogravimetric analysis
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XPS（X-ray Photoelectron Spectroscopy: X 線光電子分光法） は AES（Auger Electron Spectroscopy:オージェ電 子分光法） や TOF-SIMS（Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry:飛行時間型二次イオン質量分析法） とならぶ代表的な表面分析手法の一つである ． XPS を用いることにより物質表面の組成分析， さらには化学 結合状態の分析を行うことができる ． XPS はその取扱いの簡単さ ， データベースの豊富さ ， 実用的には帯電 補正が容易， などといったことから， 表面分析手法の中では最も幅広く用いられている手法である ． ここでは， XPS の基本原理， 装置の構成， スペクトルの測定と解析における基本的な留意点， および応用例について述 べる ．
Auger electron spectroscopy
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ISO 14701の実用性を検証するため，規格にもとづいてX線光電子分光法（XPS：X-ray photoelectron spectroscopy）を用いてシリコン酸化膜厚の測定を行った．得られた測定結果は，TEMを用いて測定した酸化膜厚と相対差1.3%で良い一致を示した．XPS測定時の帯電によってSi 2pスペクトルに存在するSiO2ピーク位置が変化し，ISO 14701に示されたエネルギー範囲に入らないことがあるが，その場合はエネルギー範囲にこだわらず，帯電量に合わせてフィッティング誤差が最小になることを重視する必要がある．記載されたXPS測定やピークフィッティング，膜厚計算の手順は分かりやすく，正確な膜厚測定が可能であることが確認できたことから，ISO 14701は実用的に有用な規格であると結論できる．
Silicon oxide
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The feasibility of utilizing X‐ray photoelectron spectroscopy ( XPS ) to analyze room‐temperature ionic liquids ( RTILs ) was investigated in this study. Conventionally, the chemical structure of organic compounds is identified by nuclear magnetic resonance ( NMR ) spectroscopy. The properties of RTILs , especially their low vapor pressure, make it possible to analyze RTILs by using XPS . The usefulness of XPS on RTILs was confirmed by commercial RTILs . All atoms in RTILs were detected in survey XPS spectra, and the calculated atomic percentages matched well with theoretical values. After the verification of commercial RTILs by XPS , we synthesized three RTILs and investigated them with XPS . The atomic ratio and chemical environment of carbon in RTILs were verified by XPS . By adapting XPS to the investigation of RTILs , carbon atoms in different chemical environments were distinguishable by the binding energy shift, and the atomic ratio of the constituent atoms was identifiable after peak deconvolution. In addition, inorganic constituents were detected by XPS unlike in the case of NMR spectroscopy.
Chemical shift
Carbon fibers
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Multistep heterogeneous reactions with exothermic and endothermic steps are separated by an advanced kinetic analysis using simultaneous TG–DSC curves.
Endothermic process
Exothermic reaction
Exothermic process
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