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フォトキャパシタンスと時間分解フォトルミネッセンス測定で調べたCu(In,Ga)Se2薄膜の深い準位欠陥に及ぼすSeビーム圧力の影響
フォトキャパシタンスと時間分解フォトルミネッセンス測定で調べたCu(In,Ga)Se2薄膜の深い準位欠陥に及ぼすSeビーム圧力の影響
2017
Hu Xiaobo
Xue Juanjuan
Tian Jiao
Weng Guoen
Chen Shaoqiang
Keywords:
Optoelectronics
Physics
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