Caractérisation structurale et morphologique de couches minces épitaxiées de Cd1-xZnxTe déposées sur GaAs(001) par ablation laser

Des couches minces epitaxiees de Cd 1-x Zn x Te ont ete deposees sur des substrats orientes (001)GaAs par la technique d'ablation laser pulse. Les cibles de Cd 1-x Zn x Te de composition x variable utilisees etaient soit des blocs polycristallins ou soit des pastilles pressees a froid obtenues a partir du melange des poudres binaires CdTe et ZnTe. La qualite morphologique et structurale de ces films minces a ete etudiee pour differentes composition x en zinc.