Old Web
English
Sign In
Acemap
>
Paper
>
Применение метода спектральной эллипсометрии для характеризации наноразмерных пленок с ферромагнитными слоями
Применение метода спектральной эллипсометрии для характеризации наноразмерных пленок с ферромагнитными слоями
2017
Х. Хашим
С.П. Сингх
Л. В. Панина
Ф.А. Пудонин
И.А. Шерстнев
C.В. Подгорная
И.А. Шпетный
А.В. Беклемишева
Correction
Source
Cite
Save
Machine Reading By IdeaReader
0
References
0
Citations
NaN
KQI
[]