GaAs和(Cs,O)/GaAs热处理工艺的XPS研究
2003
用X射线光电子能谱(XPS)研究了GaAs(100)面基片的化学清洗、热净化、(Cs,O)激活后加热的处理效果.GaAs的氧化过程是:首先,As氧化为低价态,然后Ga被氧化,再就是As氧化为高价.确保样品从刻蚀清洗到超高真空环境中,表面Ga没有被氧化,就可在较低的温度热净化,获得As稳定的且原子级清洁的GaAs表面.净化后GaAs表面Ga含量越高,则(Cs,O)激活后形成氧化物越多,从而形成了界面势垒,使电子逸出概率降低.
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