Old Web
English
Sign In
Acemap
>
Paper
>
実験室系 X 線回折装置の進歩とその測定事例—高輝度 X 線源と多次元型検出器—
実験室系 X 線回折装置の進歩とその測定事例—高輝度 X 線源と多次元型検出器—
2015
morioka hitosi
Keywords:
Crystallography
Residual stress
X-ray crystallography
Materials science
lattice strain
Correction
Source
Cite
Save
Machine Reading By IdeaReader
3
References
1
Citations
NaN
KQI
[]