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Vertical channel SONOS NAND flash에서 다양한 grain boundary에 의한 memory 특성 변화 연구
Vertical channel SONOS NAND flash에서 다양한 grain boundary에 의한 memory 특성 변화 연구
2012
최선준
이정수
이승백
Keywords:
NAND gate
Communication channel
Electronic engineering
Engineering
vertical channel
Electrical engineering
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