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Avancées successives sur la mesure de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice
Avancées successives sur la mesure de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice
2009
Pascal Chrétien
Olivier Schneegans
Frédéric Houzé
Keywords:
Atomic force microscopy
Locale (computer software)
Materials science
Humanities
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