An arrangement for light microscopy Journal

Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Lichtblattmikroskopie. Diese Anordnung umfasst eine Beleuchtungsoptik mit einem Beleuchtungsobjektiv (5) zur Beleuchtung einer Probe (3), welche sich auf einem Probentrager in einem Medium (2) befindet, wobei der Probentrager hinsichtlich einer ebenen Bezugsflache (4) ausgerichtet ist, uber einen Beleuchtungsstrahlengang mit einem Lichtblatt, wobei die optische Achse (6) des Beleuchtungsobjektivs (5) und das Lichtblatt in einer Ebene liegen, die mit der Normalen der Bezugsflache (4) einen von Null verschiedenen Beleuchtungswinkel (β) einschliest, sowie eine Detektionsoptik mit einem Detektionsobjektiv (7) in einem Detektionsstrahlengang, dessen optische Achse (8) mit der Normalen der Bezugsflache (4) einen von Null verschiedenen Detektionswinkel (δ) einschliest. Die Anordnung umfasst auserdem ein Trennschichtsystem mit mindestens einer Schicht aus einem vorgegebenen Material mit vorgegebener Dicke, welche das Medium (2) von dem Beleuchtungsobjektiv (5) und dem Detektionsobjektiv (7) trennt, wobei das Trennschichtsystem mit einer parallel zur Bezugsflache (4) ausgerichteten Grundflache (9) zumindest in dem fur das Beleuchtungsobjektiv (5) und das Detektionsobjektiv (7) fur Beleuchtung bzw. Detektion zuganglichen Bereich mit dem Medium (2) in Kontakt steht. Schlieslich umfasst die Anordnung auch ein Korrekturlinsensystem mit mindestens einer Korrekturlinse (10, 11, 12) zur Verringerung von solchen Abberationen, welche durch den schragen Durchtritt von Beleuchtungslicht und / oder zu detektierendem Licht durch Grenzflachen des Trennschichtsystems entstehen. Bei einer solchen Anordnung ist das Korrekturlinsensystem zwischen Beleuchtungsobjektiv (5) und Trennschichtsystem und / oder zwischen Detektionsobjektiv (7) und Trennschichtsystem angeordnet.