ИНТЕРПРЕТАЦИЯ ДАННЫХ СКАНИРУЮЩЕЙ ТУННЕЛЬНОЙ МИКРОСКОПИИ

Рассмотрены явления, нарушающие однозначную связь силы туннельного тока с шириной туннельного промежутка при измерениях профиля поверхности в сканирующем туннельном микроскопе. Основное внимание уделяется влиянию структуры поверхностных электронных состояний на туннельный ток.The phenomenon violating of unique relationship between the tunnel current strength and the width of tunnel gap at the surface profile measurements in a scanning tunnel microscope are discussed. The discussion has been focused on the influence of surface electronic states on tunnel current.