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Acemap > Paper > 論理BISTにおけるスキャンイン電力制御回路のTEG評価について(テスト,デザインガイア2013-VLSI設計の新しい大地-)

論理BISTにおけるスキャンイン電力制御回路のTEG評価について(テスト,デザインガイア2013-VLSI設計の新しい大地-)

2013 
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