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High‐k/SiO2界面双極子に起因するシリコン表面バンドベンディングのレーザーTHz放射顕微鏡による直接観察
High‐k/SiO2界面双極子に起因するシリコン表面バンドベンディングのレーザーTHz放射顕微鏡による直接観察
2017
Hotta Yasushi
Saiki Ikuya
Nishi Shintaro
Ito Akira
Nakanishi Hidetoshi
Yoshida Haruhiko
Arafune Koji
Sato Shin’ichi
Tonouchi Masayoshi
Kawayama Iwao
Keywords:
Science, technology and society
Data science
Imagination
Political science
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