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25aWB-12 SiC(0001)√ ×√ 再構成表面のRHEEDロッキング曲線による研究
25aWB-12 SiC(0001)√ ×√ 再構成表面のRHEEDロッキング曲線による研究
2000
tomohiro aoyama
tama ketu kan
syouzi hisada
sin'iti kou nakano
hyou hiko itinomiya
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