GaAs flash ADC成品率及其性能的蒙特卡罗分析(英文)

利用蒙特卡罗分析法对GaAsflashADC的成品率及其关键参数的灵敏度进行了定性及定量的分析.当器件阈值电压的标准偏差增大时,flashADC的DNL,INL性能会以近似线性的关系降低且更高分辨率ADC线性性能的恶化速度更快;ADC的成品率离散达到一定程度后,以指数关系下降,且高分辨率ADC的丢码率会以更快的速度增长.分析结果表明,HBT以及带腐蚀自停止的HEMT技术是超高速高分辨率ADC的发展方向.