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キャリア移動度評価によるシリコンナノワイヤトランジスタの電気特性解析(ゲート絶縁薄膜、容量膜、機能膜及びメモリ技術)
キャリア移動度評価によるシリコンナノワイヤトランジスタの電気特性解析(ゲート絶縁薄膜、容量膜、機能膜及びメモリ技術)
2010
sousi satou
kuniyuki kaku sima
Parhat Ahmet
kenzi ooge ri
kenzi natori
hirosi iwai
keisaku yamada
Keywords:
Machine learning
Computer science
Artificial intelligence
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