Chancen und Grenzen von HiL-Tests

Die weiter zunehmende Vernetzung der Steuergerate erfordert optimierte Methoden und Prozesse fur die Absicherung der Elektronik. Ein wesentlicher Baustein zum Test der Elektronik ist der Hardware-in-the-Loop-Test der elektronischen Steuergerate. Dieser wird von der Prufung einzelner Steuergerate uber die Absicherung ganzer Domanen bis hin zur Abbildung des Gesamtfahrzeugs angewandt. Dieser Beitrag stellt die Bandbreite der Technologie in der Anwendung bei ZF Friedrichshafen AG dar und bewertet deren Chancen sowie Grenzen.