308nm激光作用下V 2 O 5 非晶薄膜的变异

研究了在308nm准分子激光辐照下，V 2 O 5 非晶薄膜性质的变化-利用X射线衍射、X射线光电子能谱及扫描电子显微镜等多种测试方法进行了分析比较，确定V 2 O 5 非晶薄膜性质的变化是由于高功率密度的准分子激光作用，造成V 2 O 5 薄膜的快速升温熔化和快速冷凝重构，使其中的氧产生缺位，引起化学配比偏离所致-