Dispositif et procede pour la detection d'emissions photoniques de transistors

L'invention concerne un systeme, un dispositif et un procede pour l'analyse de donnees d'emissions photoniques (1700) visant a faire la distinction entre les photons emis par des transistors et les photons emis par des sources de fond. L'analyse consiste a traiter des donnees CAO de circuit integre pour identifier les transistors dans ces donnees (1710, 1720, 1730, 1740, 1750). Elle peut ensuite consister a utiliser des operateurs booleens pour traiter les donnees CAO afin d'identifier en particulier, par exemple via un canal, l'emplacement des grilles NMOS et PMOS, l'emplacement du drain et de la source, ou telle ou telle combinaison d'emplacements de grille, drain et source, permettant ensuite d'identifier la zone de pincement.