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2P301 FIB(Focused Ion Beam: 集束イオンビーム加工)-SEM による全細胞レベル、ナノスケール分解能での細胞周期の可視化(27. バイオイメージング,ポスター,第52回日本生物物理学会年会(2014年度))
2P301 FIB(Focused Ion Beam: 集束イオンビーム加工)-SEM による全細胞レベル、ナノスケール分解能での細胞周期の可視化(27. バイオイメージング,ポスター,第52回日本生物物理学会年会(2014年度))
2014
Rina Nagai
Keisuke Ohota
Takako M. Ichinose
Akinobu Togo
Atsuko H. Iwane
Keywords:
Focused ion beam
Analytical chemistry
Materials science
Optoelectronics
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