金属化后陶瓷表面“红点”问题的研究

利用SEM/EDS（扫描电镜/电子能谱）、XPS（X射线光电子能谱）结合机械截面样品制备方法,对Al_2O_3陶瓷金属化后表面出现的＂红点＂进行研究。利用SEM对陶瓷＂红点＂区域的形貌进行分析,利用XPS、EDS对表面元素成分及价态进行分析,利用SEM/EDS、结合机械截面样品制备方法对杂质元素的深度分布进行分析。结果表明红点区域有明显结构缺陷,致色元素主要为Cr^（3＋）。此外,还探讨了氧化铝陶瓷表面红点的显色机理。最后,通过模拟实验研究了一些工艺环节对杂质引入的影响。