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20aYN-5 弾性測定によるC_ 薄膜の照射効果の研究(格子欠陥・ナノ構造(分光法・炭素系物質),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
20aYN-5 弾性測定によるC_ 薄膜の照射効果の研究(格子欠陥・ナノ構造(分光法・炭素系物質),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
2005
hisanori tanimoto
kaisei yamada
hirosi mizubayasi
seizi sakai
hirosi kusumoto
kazumasa narumi
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