Eliminating the extinction-induced reflection enlargement in the XRD characterisations of textured films

This investigation throws additional light on the nature of secondary extinction (SE). A method is described for computing the correct integral breadth using the observed one, which is affected by SE. The method is applied for more precise measuring the integral breadths of reflections corresponding to the ideal directions of main texture components of electrodeposited silver films. Further, the effect of SE on the systematic error in integral breadth measurements is investigated in dependence on the reflectivity and pole density. Eliminierung der durch Extinktion verursachten Verbreitung der Rontgenbeugungslinien in texturierten Schichten Die Untersuchung tragt zur die Klarung der Natur der sekundaren Extinktion (SE) bei. Eine Methode fur die Berechnung der korrekten integralen Linienbreite unter Anwendung der beobachteten Linienbreite, die von der SE beeinflust ist, wird beschrieben. Die Methode wurde fur die prazise Messung der Integralbreite der Reflexionen entsprechend der Ideallagen der Haupttexturkomponenten der elektrolytisch abgeschiedenen Silberschichten angewendet. Der Einflus der SE auf den systematischen Fehler bei den Messungen der integralen Linienbreite in Abhangigkeit von dem Reflexionvermogen und der Poldichte wurde untersucht.