S-210JA-20,21号機による電子密度温度観測結果(e.イベントセッション)(第2回極域における電離圏磁気圏総合観測シンポジウム : Part II)

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S-210JA-20,21号機による電子密度温度観測結果(e.イベントセッション)(第2回極域における電離圏磁気圏総合観測シンポジウム : Part II)

1980

sigeru miyazaki
hirotaka mori
tadahiko ogawa
sigeru miyazaki
hirotaka mori
tadahiko ogawa
Miyazaki Shigeru
Mori Hirotaka
Ogawa Tadahiko

S-210JA-20および21号機により電離層じょう乱時の電子密度・温度プロファイルを測定した.前者では,E_S層の電子密度増加を示し,高度115kmにおいて約5×10^5/cm^3,電子温度が高度100km付近で約1100Kを示すことが観測された.後者では高度110kmにおいて電子密度約2×10^5/cm^3および高度110kmにおいて電子温度約1000Kを観測した.

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