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バルクFinFETにおけるホットキャリア注入ストレス誘起劣化に及ぼすフィン数の影響【Powered by NICT】
バルクFinFETにおけるホットキャリア注入ストレス誘起劣化に及ぼすフィン数の影響【Powered by NICT】
2016
Zhang Wenqi
Wang Tzuo-Li
Huang Yan-hua
Cheng Tsu-Ting
Chen Shih-Yao
Li Yi-ying
Hsu Chun-Hsiang
Lai Chih-Jui
Yeh Wen-Kuan
Yang Yi Lin
Keywords:
Electronic engineering
Computer engineering
Engineering
Reliability engineering
Systems engineering
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