AZ31镁合金阳极氧化膜在3．5％NaCl溶液中不同浸泡时间的腐蚀机制

为了进一步弄清AZ31镁合金阳极氧化膜在NaCl溶液中的腐蚀机制，采用极化曲线、电容测量技术，基于半导体电化学方法研究了其在3．5％NaCl溶液中耐蚀性能与其半导体特性的关系，得到不同浸泡时间下的载流子浓度以及平带电位。结果表明：镁合金阳极氧化膜为N型半导体，随浸泡时间的增加，载流子浓度呈上升趋势，由浸泡10min时的1．83×10^18cm^-3增大到96h时8．60×10^20cm^-3，平带电位为-1．69～-1．52V，低于镁合金（-1．44～-1．57V），在浸泡时间为1h时膜的平带电位最负，耐蚀性最好；镁合金阳极氧化膜的腐蚀失效过程会经过自我修复期-点蚀诱导期-点蚀期-快速腐蚀期4个阶段。