Détection simultanée de multiples lignes de mots et détection de défauts de porte non-et

L'invention porte sur des techniques pour une lecture post-ecriture. Selon un mode de realisation donne a titre d'exemple, une detection simultanee combinee de multiples lignes de mots est utilisee afin d'identifier un probleme dans une ou plusieurs de ces lignes de mots. A savoir, des tensions de detection sont appliquees de facon simultanee aux grilles de commande de plus d'une cellule de memoire dont la conductance resultante est mesuree sur la meme ligne de bits. Le resultat de detection combinee est utilise pour mesurer certaines statistiques de la distribution de tension de cellule (CVD) de multiples lignes de mots et la comparer a la valeur attendue. Dans le cas ou les statistiques mesurees sont differentes de celles attendues, ceci peut indiquer que la ou les lignes de mots detectees peuvent presenter un defaut et un examen plus approfondi du groupe de lignes de mots peut etre realise.