VACUUM ULTRA-VIOLET SPECTROSCOPY METHODS USE FOR ELECTRON TEMPERATURE MEASURING IN THE PERIPHERAL PLASMA OF Z-PINCH PRODUSED FROM LOW-DENSITY DEUTERATED POLYETHYLEN

В работе представлены результаты измерения электронной температуры периферийной плазмы дейтерированного Z-пинча по спектрам излучения диагностической добавки железа в диапазоне вакуумного ультрафиолета (ВУФ) на установке «Ангара 5-1». Для регистрации спектра использовался спектрометр скользящего падения с вогнутой дифракционной решёткой. Значение электронной температуры определялось по положению максимума распределения спектра (основываясь на методе, описанном в работах [1, 2]) и по максимальной наблюдаемой степени ионизации железа. Полученные в результате измерений значения электронной температуры периферийной плазмы попадают в диапазон 200—400 эВ в зависимости от параметров эксперимента и области измерения.