Inspection apparatus and methods for verifying a smart card semifinished

Die Erfindung betrifft eine Inspektionsvorrichtung (100) zum Verifizieren eines Halbzeugs (101) zum Herstellen einer Chipkarte mit einer durch eine Kante (103a) begrenzten Aussparung zur Aufnahme eines elektronischen Schaltkreises (104) mit: einer Beleuchtungsquelle (105), welche ausgebildet ist, das Halbzeug (101) mit Licht einer vorbestimmten Wellenlange zu beleuchten; einer Bildkamera (107), welche ausgebildet ist, eine Bildaufnahme des beleuchteten Halbzeugs (101) mit der durch die Kante (103a) begrenzten Aussparung zu erfassen; und einem Prozessor (109), welcher ausgebildet ist, mittels eines Laplace-Filters einen Verlauf der Kante (103a) in der Bildaufnahme als einen umlaufenden Bereich zu erfassen und das Halbzeug (101) auf der Grundlage des erfassten Verlaufs der Kante (103a) zu verifizieren.