HgI2探测器阵列测量HL—1M中15～150keV X射线辐射

在磁约束聚变高温等离子的诊断实验中高能硬X射线、低能软X射线辐射的诊断方法已获得长足进展，已成为研究逃逸电子产生及输运过程、磁场扰动、热电子的速率分布、内破裂、锯齿振荡、热电子温度以及重金属杂质含量的重要诊断工具，但是由超热电子引起的中等能量X射线辐射因受到探测器的制约，这方面的研究及诊断实验较少。事实上，不仅低密度的欧姆放电中有大量的超热电子存在，而且在辅助加热特别是波加热及低杂波电流驱动过程中也可能产生大量的超热电子。超热电子与等离子体中的电子和离子相互作用产生的X射线轫致辐射其能量在10－150keV之间，用HgI2探测器阵列测量这种中等能量的X射线的辐射强度和能谱，我们可以了解在辅助加热条件下等离子体辐射的中等能量X射线辐射强度的时空分布，研究能量沉积的范围和区域，外来RF波的可接近性及回旋共振层的确切位置，超热电子的速率分布和此分布的时空变化。本文主要叙述实验安排和探测系统的标定结果、靶丸注入和ICRH条件下10－150keV能量范围的X射线的辐射强度，得到了超热电子大致的速率分布。