丝网印刷FeS 2 （pyrite）薄膜的结构及光电性能

2005

采用丝网印刷方法制备了FeS 2 (pyrite)薄膜，用x射线衍射确定了样品FeS 2 (pyrite)薄膜的晶体结构，并用Rietveld方法对样品的结构进行了精修，确定了样品的点阵常数、键长、键角、硫原子占位等结构参数.研究了膜厚对方块电阻、载流子浓度、霍尔迁移率、光能隙等光电参数的影响.

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