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Acemap > Paper > 招待講演 16/14nmノード以降における高速かつ高信頼性を有する混載フラッシュメモリ向けFinFET Split-Gate MONOS (シリコン材料・デバイス)

招待講演 16/14nmノード以降における高速かつ高信頼性を有する混載フラッシュメモリ向けFinFET Split-Gate MONOS (シリコン材料・デバイス)

2017 
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