Dispositif de mesure et procédé de mesure

L'invention porte sur un moyen pour quantifier la resistance aux erreurs intermittentes dans un circuit logique. Un groupe de blocs logiques (120), ayant au moins un ensemble comprenant un bloc logique ayant au moins un circuit logique et un circuit sequentiel qui met en entree la sortie du bloc logique, est dispose dans une region d'irradiation (110) d'un dispositif d'irradiation par particules de haute energie, et est soumis a une irradiation par des particules de haute energie. Une section de commande (101) calcule le taux d'erreur du circuit logique, a partir de la valeur obtenue par soustraction du nombre d'erreurs du circuit sequentiel quand le bloc logique du groupe de blocs logiques (120) est evite, a partir du nombre d'erreurs du circuit sequentiel et du bloc logique du groupe de blocs logiques (120).