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ホットキャリア損傷を受けた28nm FDSOI CMOSノードにおける治癒技術の可能性【Powered by NICT】
ホットキャリア損傷を受けた28nm FDSOI CMOSノードにおける治癒技術の可能性【Powered by NICT】
2016
A. Bravaix
F. Cacho
X. Federspiel
C. Ndiaye
Souhir Mhira
V. Huard
Keywords:
Computer engineering
Engineering
Electronic engineering
Systems engineering
Reliability engineering
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