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J2240201 PZT薄膜及びナノロッドの圧電特性に及ぼす基板拘束の影響([J224-02]『マイクロ・ナノ機械の信頼性』のための材料創製・測定・解析技術 マイクロ・ナノ実験力学と機能材料)
J2240201 PZT薄膜及びナノロッドの圧電特性に及ぼす基板拘束の影響([J224-02]『マイクロ・ナノ機械の信頼性』のための材料創製・測定・解析技術 マイクロ・ナノ実験力学と機能材料)
2014
tomoaki yamada
jun yasumoto
syuusin sakata
masahito yosino
sei masa nagasaki
hirosi fune kubo
Keywords:
Nanostructure
Thin film
Ceramic materials
Piezoelectricity
Composite material
Materials science
crystal orientation
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