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25a-S-9 X線異常透過効果によるSi断層内の格子欠陥分布計測法の開発
25a-S-9 X線異常透過効果によるSi断層内の格子欠陥分布計測法の開発
1992
yosinori kin ura
tosikazu murata
houbun suzuki
hideki siroi
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