Caracterización Óptica y Estructural de Películas Semiconductoras de InAsSb para Aplicación en el Infrarrojo
2013
sustrato el GaSb tienen una energia de gap que puede
ser obtenida entre 1.58 eV (0.8 μm) hasta 0.03 eV (4.3
μm). En este periodo nos ocupamos en crecer peliculas
epitaxiales basadas en aleaciones de InAs0.91Sb0.09 con
longitud de onda alrededor de 3 μm. Usamos tambien
las tecnicas de espectroscopia raman, microscopia
electronica de barrido (SEM) y de fuerza atomica
(AFM) asi como de fotoacustica (PA); para
caracterizar sus propiedades opticas, estructurales y la
calidad de la interface entre la pelicula y el substrato
bajo diversas condiciones de crecimiento.
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