On the cutting edge of semiconductor sensors: towards intelligent X-ray detectors

De breedte van de ongevoelige rand van kristallijne halfgeleidersensoren kan waarschijnlijk gereduceerd worden tot minder dan een pixel. Dit blijkt uit het onderzoek van Marten Bosma. State-of-the-art pixeldetectoren anno 2012 combineren geavanceerde signaalverwerkingselektronica met hoogwaardige kristallijne halfgeleidersensoren. Deze detectoren kunnen daardoor, in vergelijking met hedendaagse medische-radiografiesystemen, met gebruik van een lagere stralingsdosis scherpere rontgenfoto’s maken. Zelfs is het mogelijk om kleurenrontgenfoto’s te maken, hetgeen de diagnostische waarde van een foto significant kan verhogen. Het gelimiteerde oppervlak van de detectoren vormt echter een grote uitdaging om een concurrerend radiodiagnostisch systeem te realiseren. Een getegeld oppervlak van deze relatief kleine detectoren zou daarvoor de oplossing kunnen bieden. Om naden in het uiteindelijke beeld te voorkomen, dienen de afzonderlijke detectormodules gevoelig te zijn over hun volledige oppervlak. Een significante verkleining van de ongevoelige rand van de sensoren draagt bij aan de realisatie van zo’n module en is daarom een stap in de richting naar toekomstige intelligente en dosisefficiente radiografiesystemen van groot formaat.