Détection et cartographie automatisées de défauts pour filtres optiques

L'invention concerne des dispositifs et des procedes pour caracteriser des defectuosites de point (y compris des trous d'epingle et des defauts de point) d'un filtre optique. Un essai de bande passante est effectue, celui-ci consistant : a eclairer le filtre optique avec un eclairage de bande passante dont la plage spectrale chevauche au moins une bande passante du filtre optique ; a acquerir une carte de bande passante du filtre optique a l'aide d'un reseau bidimensionnel de photodetecteurs tout en eclairant le filtre optique avec l'eclairage de bande passante ; a identifier des defauts de point du filtre optique en tant qu'emplacements de faible intensite de la carte de bande passante. Un essai de bande attenuee est effectue, celui-ci consistant : a eclairer le filtre optique avec un eclairage de bande attenuee dont la plage spectrale se situe entierement hors de la bande passante du filtre optique ; a acquerir une carte de bande attenuee du filtre optique a l'aide du reseau bidimensionnel de photodetecteurs tout en eclairant le filtre optique avec l'eclairage de bande attenuee ; a identifier des trous d'epingle du filtre optique en tant qu'emplacements de forte intensite de la carte de bande attenuee.