熔融制样 X 射线荧光光谱法测定碳酸盐岩样品中的主次成分

采用复合熔剂玻璃熔片法制备样片， X 射线荧光光谱法测定碳酸盐岩样品中SiO 2 、Fe 2 O 3 、Al 2 O 3 、TiO 2 、CaO、MgO、K 2 O、Na 2 O、MnO和P 2 O 5 等主次成分.使用理论 α 系数校正基体效应，国家一级标准物质验证，方法简单快速.测量结果各元素相对标准偏差（RSD，n=12）低于10%（除含量在检出限附近的元素外），检出限低，能够符合地矿行业的要求.