K 0.5 Bi 0.5 TiO 3 —Na 0.5 Bi 0.5 TiO 3 系统铁电陶瓷相界的X射线研究

用X射线衍射方法测定了K 0.5 Bi 0.5 TiO 3 —Na 0.5 Bi 0.5 TiO 3 系统不同组分试样的点阵常数和相变温度,确定了四方-三方相界组成。给出了K 0.5 Bi 0.5 TiO 3 和Na 0.5 Bi 0.5 TiO 3 的多晶X射线衍射数据。