Détection et modélisation des défauts critiques dans des matériaux transparents

Notre etude consiste a realiser un systeme optoelectronique pour ecarter automatiquement les produits transparents fissures puisque ce systeme detecte les defauts volumiques et surfaciques. Le controle des fissures et de defauts est fait par un detecteur de lumiere associe a une camera et une analyse d'image. Les materiaux transparents sont eclaires par un faisceau et lorsque le defaut passe sous la lumiere, il genere une variation d'intensite dans le detecteur de lumiere et dans l'image.