Réflexion et fluorescence X : une complémentarité au profit de la caractérisation des surfaces

Dans cette etude nous avons utilise deux techniques complementaires, la reflexion diffuse des rayonnements X et la fluorescence X, pour caracteriser la surface de trois echantillons d'Alacrite XSH (alliage quaternaire a base de cobalt, contenant du chrome, du nickel et du tungstene). En plus de la rugosite superficielle, ces mesures donnent des informations sur la composition en surface (sur quelques dizaines de nanometres) selon la profondeur de penetration des rayons X. La valeur de "l'angle critique" est determinee puis exploitee pour identifier la nature des composes presents a la surface de l'un de ces echantillons. Ces mesures sont ensuite completees par des cliches pris au microscope electronique a balayage.