El Yapımı Patlayıcıların ve Patlayıcı Maddelerin Tespitinde Kullanılan Spektroskopi Tabanlı Yöntemlerin Karşılaştırılmasına İlişkin Bir İnceleme

El Yapimi Patlayicilar (EYP) ve patlayici maddeler nedeniyle her yil binlerce kisi olmekte, yaralanmakta ve psikolojik olarak zarar gormektedir. Ulkeler ulusal guvenliklerini saglamak maksadiyla muazzam caba sarf etmekte ve EYP’lere karsi tedbirler gelistirebilmek icin hatiri sayilir harcamalar yapmaktadirlar. En guclu ordularin bile tespiti icin cozum gelistirmekte zorlandigi EYP’ler, Turk Silahli Kuvvetleri icin de buyuk bir problem olusturmaktadir. Son yillarda ulkemizdeki teror eylemlerinde de siklikla kullanilmasi nedeniyle EYP ile mucadele her gecen gun daha cok onem kazanmaktadir. Satih altina gomulmus bir patlayici maddenin tespit edilmesi; arazi yapisi, cevre kosullari, iklim yapisi ve gomulu maddenin ozellikleri hakkinda bilgi edinilmesini gerektiren zorlu bir surectir. Tespit yonteminin kullanilacagi arazi sartlari, ihtiyac duyulan uzaklik, hassasiyet ve sure gibi pek cok degisken sebebiyle standart bir EYP tespit yontemi bulunmamaktadir. Bu nedenle dunyada cok cesitli yontemler uzerine bircok calisma yurumektedir. Fakat patlayici maddeleri tespit ederken kullanilan her teknik ve usul faydali olamamakta ve dogru sonuc vermemektedir. Tespit edilmesi arzulanan patlayici maddenin cinsine, cevresel etkenlerine, mesafesine, zemin altindaki derinligine, kimyasal bilesenlerine vb. faktorlere gore en uygun teknigin secilmesi icap etmektedir. Bu makalede, once patlayici ve EYP’ler hakkinda genel bilgi verilmis, kimyasal yapilari ve tespit teknolojileri incelenmistir. Daha sonra da EYP tespitinde kullanilan spektroskopi tabanli dort yontem ele alinmis, hangi durumlarda kullanilabilir olacaklari, avantajlari ve dezavantajlari incelenmistir. Otomatik ve temassiz olarak kullanabilecek ve elektromanyetik spektrumun (EM) farkli alanlarina yogunlasarak patlayici tespitine farkli pencerelerden bakan bu yontemler sunlardir: (i) Hiperspektral Goruntuleme, (ii) Fourier Donusum Kizilotesi (FT-IR) Spektroskopisi, (iii) Terahertz Teknolojisi, (iv) Lazer Etkilesimli Plazma Spektroskopisi (LIBS). Bu yontemler, yigin veya iz patlayici bulmadaki basarilari, laboratuvar ortaminda veya operasyonel olarak kullanimlari ve insan sagligina etkileri acisindan degerlendirilmislerdir. Son olarak da patlayici ve EYP’lerin otomatik tespitinde dikkat edilmesi gereken hususlar verilmis ve bu alandaki gelismelerin gelecegi tartisilmistir.