Préparation d'échantillon pour microscopie électronique en transmission

La presente invention concerne un kit d'echantillon pour microscopie electronique en transmission (TEM) comprenant : (a) un substrat superieur et un substrat inferieur, les substrats superieur et inferieur etant transparents et sensiblement paralleles l'un a l'autre; (b) une premiere cale et une seconde cale, situees en dessous du substrat superieur et reposant sur le substrat inferieur, la seconde cale etant opposee a la premiere cale et en etant separee d'une distance d ; et (c) une chambre formee entre les substrats superieur et inferieur et entre les premiere et seconde cales, la chambre presentant deux extremites ouvertes vers l'atmosphere et caracterisee en ce que sa hauteur est definie par l'epaisseur h de la cale, la hauteur etant plus petite que le diametre d'un globule rouge. L'invention concerne egalement des procedes de preparation d'un echantillon sec pour la caracterisation de nanoparticules par TEM, et des procedes d'analyse d'images TEM de nanoparticules dans un echantillon liquide.